Rastgele sayısal işaretlerin ölçümünü ve üretimini sağlayan devreler ve sistemler

Abstract

Bu tezde, rastgele sayısal işaretlerin ölçümü için elektronik ve bilgisayarlı ölçme devreleri tasarlanmış ve gerçekleştirilmiştir. Ayrıca bu ölçme işlemindeki işaretler analiz edilmiş ve bu işaretlerle eş özellikte yapay işaretleri üreten sayısal elektronik devreler tasarlanmış ve gerçekleştirilmiştir. Gerçekleştirilen ölçüm sistemi, yazılım ile desteklenmiş programlanabilir sayıcı/zamanlayıcı donanımı. içerir. Bu ölçüm sistemi, zaman aralığı rastgele değişen sayısal işaretleri,, 200ns ile 20jta arasında değişen ayırıcılık ile ölçmeyi ve depolamayı sağlar. Gerçekleştirilen diğer sistem, 100ns ile 10ps arasında değişen ayırıcılık ile zaman aralığı 100ns ile 0.1s arasında değişen yalancı rasgele sayısal işaretler üretir. Oreteç sisteminin karakteristiği, üreteç yazılımı ile istenen parametreler için tanımlanabilir. Son bölümde, tasarlanan ve gerçekleştirilen yalancı rastgele sayısal işaret üreteç sisteminin çıkış işareti, tasarlanan ve gerçekleştirilen ölçüm sistemi ile ölçülmüştür. Ölçülen bilgiler, matematik ve istatistik analiz yazılımları ile analiz edilmiştir