Yayın:
Al/Al2O3/CdS MIS yapısının yapısal ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi

dc.contributor.advisorDoç. Dr. Merih Serin
dc.contributor.advisorÖğr. Gör. Murat Çalışkan
dc.contributor.authorMoğulkoç, Muzaffer
dc.date.accessioned2018-07-17T13:19:09Z
dc.date.accessioned2026-06-21T08:04:55Z
dc.date.available2018-07-17T13:19:09Z
dc.date.issued2013
dc.descriptionTez (Yüksek Lisans) - Yıldız Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2013
dc.description.abstractBu çalışmada, farklı oksit kalınlıkları ile oluşturulan Al/Al2O3/CdS MIS Schottky diyotların akım-gerilim (I-V) ve kapasitans-gerilim (C-V) karakteristikleri ±5V aralığında incelendi. Elde edilen ölçümler ile yapının idealite faktörü (n), bariyer yüksekliği (ϕB), seri direnci (Rs), taşıyıcı yoğunluğu (NA) ve arayüzey durumlarının sayısı (Nss) belirlendi. Sıcaklık artışı ile birlikte ϕB ve Rs değerlerinde düşüş, n değerinde artış gözlemlenirken NA ve Nss değerlerinde incelenen sıcaklık aralığında belirgin bir değişim görülmedi. Diyotun nem algılama özelliğinin incelenmesi için nem ortamında I-V ölçümleri yapıldı. Bu ölçümler sonucunda nem etkisi ile diyotun direncinde azalma meydana geldiği görüldü. Bu nedenle diyotun sensör uygulamaları için uygun bir davranış gösterdiği anlaşıldı.
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14981/2579
dc.subjectCdS
dc.subjectMetal-yalıtkan-yarı iletken
dc.subjectMIS
dc.subjectSchottky eklem
dc.subjectDiyot
dc.subjectArayüz durum yoğunluğu
dc.subjectAl2O3
dc.subjectAnodik oksidasyon
dc.subjectSensör
dc.titleAl/Al2O3/CdS MIS yapısının yapısal ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi
dc.typemasterThesis
dspace.entity.typePublication

Dosyalar

Orijinal paket

Şimdi gösterimde1 - 1 of 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
Adı:
0165202.pdf
Boyut:
1,91 MB
Format:
Adobe Portable Document Format

Koleksiyonlar