Yayın:
Modeling statistical variations in MOS transistors

Basit öğe sayfası
dc.contributor.advisorProf. Dr. Atilla Ataman
dc.contributor.authorTulunay, Gülin
dc.date.accessioned2018-07-24T13:06:40Z
dc.date.accessioned2026-06-21T06:36:56Z
dc.date.available2018-07-24T13:06:40Z
dc.date.issued2001
dc.descriptionTez (Yüksek Lisans) - Yıldız Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2001
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14981/7491
dc.subjectBasinc definitions & literature survey
dc.subjectlevel 3 - empircal model
dc.subjectproposed mismatch model
dc.subjectconclusion and future work
dc.titleModeling statistical variations in MOS transistors
dc.typemasterThesis
dspace.entity.typePublication

Dosyalar

Orijinal paket

Şimdi gösterimde1 - 1 of 1
Küçük Resim
Adı:
0009687.pdf
Boyut:
3,64 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
İndir

Koleksiyonlar

Tezler