Yayın:
Yüksek basınç altında çalışan diferansiyel termal analiz cihazının geliştirilmesi

Yükleniyor...
Küçük Resim

Tarih

Kurum Yazarları

item.page.editor

Editör

Bölüm / Program

Dergi Başlığı

Dergi ISSN

Cilt Başlığı

Yayıncı

DOI

Araştırma Projeleri

Akademik Birimler

Dergi Sayısı

Özet

Bu çalışmada Organik [ a- Naftol (CıoH8O), 2- Metil İndol (C9H9N), o- Fenilendiamin ( C6H8N2), Rezorsin (C6H602), C37H59NO3, C37H59NO2, H37Cı80)] ve İnorganik ( Orta yoğunluklu polietilen, Alçak yoğunluklu polietilen) bileşiklerin farklı yüksek basınç ortamındaki katı-sıvı, katı-katı geçişlerinde kritik sıcaklığın ve entalpinin, basınca bağlı değişimleri incelendi. Deneyler için 1 ile 200 atmosfer (1 Atm < P <200 Atm) arasında ölçüm yapabilecek DTA gereci tasarlanarak geliştirildi, ve basınca bağlı olarak kritik sıcaklığın değişimi ve faz geçişlerindeki entalpinin değişimi incelenerek, maddelerin hangi basınç ve sıcaklıkta bozulmaya uğradıkları tespit edildi Bozulmaya uğramayan maddeler için farklı basınçlarda aynı malzeme ile ölçümler tekrarlanarak değişimleri incelendi. a- Naftol (CıoH8O) ve 2- Metil İndol (C9H9N) gibi birleşiklerin faz geçişlerinde yapısal bir bozulma gözlendiğinden, bu tip bileşikleri farklı basınçlarda incelerken her seferinde yeni bir örnek kullanıldı. C37H59NO2, C37H59NO3, C41H67NO2 sıvı kristal gruplarının faz geçişlerinde yapısal bir bozulma gözlenmedi. Bu tip bileşikleri farklı basınçlarda incelerken, her seferinde aynı örnek kullanılarak birden fazla ölçüm alındı. Böylelikle farklı iki durum için, kritik sıcaklık değişimi ve faz geçişlerindeki entalpinin değişimi incelenebildi. Yapısal bozulmaya uğrayan bileşiklerin farklı basınçlardaki kritik sıcaklık değişimleri ve faz geçişlerinde entalpi değişimleri tespit edilerek, faz geçişlerinde yapısal bozulma gözlemlenmeyen Sıvı Kristal gruplarının ikinci kez ısıtılmasında daha az enerjiye ihtiyaç duyulduğu ancak kritik sıcaklığın basınca bağlı artışının devam ettiği tespit edildi.

Tanım

Tez (Doktora) - Yıldız Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2002

Dergi veya Seri

ISSN

ISBN

Haklar

Alıntı

Koleksiyonlar

Onay

Gözden geçir

Tamamlayıcı Bilgiler

Referans Gösteren

Related Patent

Related Goal

0

Views

0

Downloads