Yayın:
Detailed study on effects of gate voltage, frequency and temperature on dielectric properties of Cu/PAr/n-CdS/SnO2 MIS Schottky diode

Yükleniyor...
Küçük Resim

Tarih

Kurum Yazarları

Danışman

item.page.editor

Editör

Bölüm / Program

Dergi Başlığı

Dergi ISSN

Cilt Başlığı

Yayıncı

IOP Publishing Ltd

DOI

10.1088/1361-6463/abd80e

Türü

View PlumX Details

Araştırma Projeleri

Akademik Birimler

Dergi Sayısı

Özet

In this paper, CdS based metal-insulator-semiconductor (MIS) diode was fabricated by using the Polyarylate (PAr) film as insulator dielectric on transparent conductive glass substrate. The dielectric parameters such as dielectric constant (epsilon '), loss (epsilon), loss tangent (tan delta), ac conduc-tivity (sigma(AC)) and complex modulus (M '

Tanım

Dergi veya Seri

JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS

ISSN

0022-3727

ISBN

Haklar

Alıntı

Koleksiyonlar

Onay

Gözden geçir

Tamamlayıcı Bilgiler

Referans Gösteren

Related Patent

Related Goal

0

Views

0

Downloads