Özet:
Yapılan bu çalışmada, PbSe ve TlBiSe2 ince filmler cam taşıyıcılar üzerine elektron demeti ile buharlaştırma tekniği kullanılarak büyütülmüş ve bunlar güneş ışınlarının kontrolü için kaplama malzemesi olarak araştırılmıştır. Filmlerin yapısı ve morfolojisi X- ışınları ve yüzey taramalı elektron mikroskobu (SEM) kullanılarak incelenmiştir. TlBiSe2 filmlerinin X-ışınları kırınım diagramında keskin yansımalar (pikler) görülmemiş olmasından bu filmlerin amorf olduğu sonucuna varılmıştır. Filmlerin 350-1100 nm bölgesindeki optik geçirgenlikleri UV-VIS spekrofotometre (Perkin Elmer Lambda 2S) kullanılarak çalışılmıştır.
