Özet:
CdTe filmler cam altlıkların yüzeyine vakumda yalan mesafeli süblimasyon (Close-Spaced Sublimation, CSS) yöntemi ile kaplandı. CdTe/Cu yapılar, Cu filmlerin oda sıcaklığındaki CdTe filmler üzerine elektron-demeti buharlaştırmasıyla üretildi. Bakırın CdTe filmlerde difüzyon katsayısı termal ve fototavlama sürecine bağlı özdirenç eğrilerinden belirlendi. 60-200°C aralığında bakırın termal ve fotodifüzyon katsayısı Dt=7.3xlO"7exp(-0.33/kT) ve Df=4.7xlO"8exp(-0.20/kT) olarak belirlendi. Bakırla katkılı n-tipi CdTe filmlerin 400°C'de tavlanmasıyla p-tipine dönüşümü gözlendi ve özdirencin 109 kat azalması belirlendi. Yakın mesafeli süblimasyon yöntemiyle elde edilen CdTe filmlerin kübik yapıda ve (111) yönünde büyüdüğü gözlendi. CdTe ve CdTe(Cu) filmlerin örgü parametreleri sırasıyla a=6.406 Â ve a=6.464 Â olarak belirlendi. CdTe ve CdTe(Cu) filmlerin akım-gerilim karakteristikleri, fotoiletkenlik ve optik geçirgenlik spektrumları incelendi. CdTe ve CdTe(Cu) filmlerin yasak bant aralığı 1.4510.05 eV olarak ölçüldü. CdTe(Cu) örneklerin iletkenliğinin sıcaklıkla değişimi deneylerinden bakırla uyarılmış Ey+0.12 eVTuk enerji seviyesi belirlendi.
