Özet:
Bu çalışmanın birinci konusu, çift potalı ısıl analiz olarak isimlendirdiğimiz, yeni bir yöntemin(bu yöntemde iki potadan elde edilen soğuma eğrilerinin farkları zamana karşı çizdirilir), Al-Si alaşımlarının katılaşması sırasında meydana gelen fazların daha hassas elde edilmesi ve hatta diğer yöntemlerde tespit edilememiş fazların bulunması için kullanılabilirliğini araştırmaktır. İkinci konusu, aynı yöntem ile Al-Si alaşımlarında tane inceltmenin etkilerinin daha iyi tespit edilip edilmeyeceğini araştırmaktır. Bu amaçla üç farklı bileşime sahip Al-Si alaşımlarına %1Tİ ilavesi A1-5Tİ-1B master alaşımı ilavesiyle yapılmıştır. Son olarak da hem tane inceltilmemiş hem de tane inceltilmiş numunelerin metalografik incelemesi yapılmış ve bu numunelerden elde edilen soğuma eğrilerinin türevleri ve farkları arasındaki ilişkiler incelenmiştir. Bu çalışmalar sonucunda elde edilen sonuçlara bakıldığında, kullanılan yeni yöntemin, türevin kullanılmasıyla elde edilen sonuçlarla uyuştuğu ve oluşan fazların tespiti için kullanılabileceği anlaşılmıştır. Ancak, umulduğu gibi diğer yöntemlerden farklı olarak yeni bir faz tespit edilememiştir. Yöntem, tane inceltmede de türev yöntemiyle uyuşmuştur. Tane inceltmenin soğuma eğrilerindeki etkileri literatürde belirtildiği gibi gözlemlenmiştir. Yani birincil katılaşma bölgesindeki alt soğuma miktarları azalarak, katılaşma başlangıç sıcaklığını biraz üst sıcaklıklara çekmiştir. Ötektik bölgedeki alt soğumada azalmış ve ötektik katılaşma başlangıç sıcaklığı artmıştır. Elde edilen metalografik yapılar ile soğuma eğrilerinin türevlerinde ve kullanılan yeni yöntemde tespit edilen fazlar ilişkilendirilmiştir ve fazlarla yapıların birebir uyuştuğu görülmüştür. Tane inceltmenin etkisi de metalografik yapılarda açıkça görülmüştür. Sonuçta, kullandığımız yöntem yeni bir yaklaşımı yansıttığından önemlidir. Elde edilen sonuçlarda bunu göstermektedir. Ancak bu yöntemin daha geliştirilmesi gerektiği sonucuna varılmıştır.
