YTÜ DSpace Kurumsal Arşivi

Al/Al2O3/CdS MIS yapısının yapısal ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.advisor Doç. Dr. Merih Serin
dc.contributor.advisor Öğr. Gör. Murat Çalışkan
dc.contributor.author Moğulkoç, Muzaffer
dc.date.accessioned 2018-07-17T13:19:09Z
dc.date.available 2018-07-17T13:19:09Z
dc.date.issued 2013
dc.identifier.uri http://localhost:6060/xmlui/handle/1/2579
dc.description Tez (Yüksek Lisans) - Yıldız Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2013
dc.description.abstract Bu çalışmada, farklı oksit kalınlıkları ile oluşturulan Al/Al2O3/CdS MIS Schottky diyotların akım-gerilim (I-V) ve kapasitans-gerilim (C-V) karakteristikleri ±5V aralığında incelendi. Elde edilen ölçümler ile yapının idealite faktörü (n), bariyer yüksekliği (ϕB), seri direnci (Rs), taşıyıcı yoğunluğu (NA) ve arayüzey durumlarının sayısı (Nss) belirlendi. Sıcaklık artışı ile birlikte ϕB ve Rs değerlerinde düşüş, n değerinde artış gözlemlenirken NA ve Nss değerlerinde incelenen sıcaklık aralığında belirgin bir değişim görülmedi. Diyotun nem algılama özelliğinin incelenmesi için nem ortamında I-V ölçümleri yapıldı. Bu ölçümler sonucunda nem etkisi ile diyotun direncinde azalma meydana geldiği görüldü. Bu nedenle diyotun sensör uygulamaları için uygun bir davranış gösterdiği anlaşıldı.
dc.subject CdS
dc.subject Metal-yalıtkan-yarı iletken
dc.subject MIS
dc.subject Schottky eklem
dc.subject Diyot
dc.subject Arayüz durum yoğunluğu
dc.subject Al2O3
dc.subject Anodik oksidasyon
dc.subject Sensör
dc.title Al/Al2O3/CdS MIS yapısının yapısal ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi
dc.type Tez


Bu öğenin dosyaları

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster